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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 磁性測厚儀TC-LYT-2008 磁性測厚儀 型號(hào)：TC-LYT-2008
一、概述
本儀器采用磁性測厚方法，可無損傷檢測磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。本儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。
1）本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）
2）特點(diǎn)
便攜設(shè)計(jì)，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的測量能力
人性化設(shè)計(jì)，簡單操作。
兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
3)測量原理
磁性法
當(dāng)測頭與覆層接觸時(shí)，測頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。
二、技術(shù)參數(shù)
● 測量范圍：0-1200um
● 工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池
● 分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
● 測量精度誤差：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5
● 公英制轉(zhuǎn)換：um/mil轉(zhuǎn)換
● 環(huán)境溫度:-10-40℃
● 相對濕度:≤85%
● Z小基體:10*10mm
● Z小曲率:凸5mm;凹5mm
● Z薄基體：0.4mm
● 重量：99克（含電池）
● 尺寸：102mm*66mm*24mm
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